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產(chǎn)品分類

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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:3225貼片晶振測試儀

  • 產(chǎn)品型號:
  • 產(chǎn)品廠商:創(chuàng)鑫
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
3225貼片晶振測試儀
詳情介紹:

3225貼片晶振測試儀


一. 概述

CX-118A型晶振測試儀是一款用來測試晶振頻率、精度、漂移等指標(biāo)的通用測試儀器。

儀器采用超高精度的有源溫補(bǔ)晶振作為時(shí)間基準(zhǔn);高速ECL電路進(jìn)行信號的整形、放大、計(jì)數(shù) ;單片機(jī)進(jìn)行系統(tǒng)管理及數(shù)據(jù)處理。儀器自身帶有*常用的Pierce振蕩電路,可以用來直接測試35MHZ以下的無源基頻晶振(超過35M的基頻晶振很少)、以及100MHZ以下的泛音晶振的基頻頻率。

二.功能及用途

CX-118A晶振測試儀可直接測量40MHz以下無源晶振的頻率、以及100MHz以下泛音晶振的基頻頻率,可滿足絕大部分晶振測量的需要。(絕大多數(shù)的基頻晶振頻率都<40MHz,泛音晶振多為3倍泛音,)。可直接測量插腳封裝晶振,配備“貼片晶振測試座”也可測量貼片封裝晶振;


該設(shè)備可以測量如下類型的參數(shù):

1.頻率

2.周期

3.頻率偏差率

4.頻率漂移率

5.漂移監(jiān)測時(shí)間


三.主要技術(shù)指標(biāo)

1. 頻率測量范圍:32.768KHz-100MHz

2. 周期測量范圍:1ns-10s

3. 采樣時(shí)間(T):0.01s、0.1s、1s、10s可調(diào)

4. 頻率分辨率(R.P.):

T=0.01s 時(shí)R.P.=100HZ

T=0.1s 時(shí)R.P.=10HZ

T=1s 時(shí)R.P.=1HZ

T=10s 時(shí)R.P.=0.1HZ

5. 基準(zhǔn)頻率:10MHz

6. 基準(zhǔn)精度:2ppm

7. 測量精度:2.5倍基準(zhǔn)精度+1 R.P.

8. 外部輸入信號幅度:50mv-10v

9. 環(huán)境溫度:20±15℃

10. 電源:100-240v、50/60Hz

11. 功耗:<10W

 1.“參數(shù)選擇”功能:

該功能用來選擇顯示的參數(shù)類型。按壓“顯示選擇”鍵依次循環(huán)切換。發(fā)亮燈指示當(dāng)前顯示類型。

“漂移采樣”按鈕:用來啟動(dòng)漂移采樣或者停止漂移采樣。按鈕上方指示燈亮?xí)r表示“漂移測量”處于工作狀態(tài)。 啟動(dòng)漂移采樣時(shí)、顯示實(shí)時(shí)漂移率及漂移測量時(shí)間;停止漂移采樣時(shí)、顯示上次漂移率及漂移測量時(shí)間(如果測量時(shí)間=0、表示開機(jī)后為啟動(dòng)過漂移測量)

漂移測量原理:啟動(dòng)“漂移采樣時(shí),系統(tǒng)以當(dāng)時(shí)的頻率測量值作為基準(zhǔn),然后實(shí)時(shí)比較采樣值,提取并保存*低頻率和頻率,計(jì)算相對于基準(zhǔn)的偏差,選取大者作為漂移值。

 

注意:(1)測量“偏差”值時(shí)必須將晶振的“標(biāo)稱值”作為“標(biāo)準(zhǔn)值“輸入系統(tǒng)(參見“標(biāo)準(zhǔn)   設(shè)置”說明)

(2) 此處“時(shí)間”指的是漂移測量時(shí)間

2.“采樣時(shí)間”功能

該功能用來選擇系統(tǒng)進(jìn)行一次完整測量需要的時(shí)間。時(shí)間越短,測量速度越快,測量分辨率越低,相應(yīng)的測量精度就越差。(見“主要技術(shù)指標(biāo)—頻率分辨率(R.P.)、及測量精度)。除非使用“外部測量”接口、測量很低頻率的信號,選擇10s外,通常選擇1s或0.1s。

按壓該功能鍵、循環(huán)切換采樣時(shí)間。

3.“標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置”功能

偏差測量(俗稱ppm測量)是通過測量頻率值,然后通過與標(biāo)準(zhǔn)頻率值進(jìn)行比較運(yùn)算得到的。因此要準(zhǔn)確的測量偏差、就必須正確輸入標(biāo)稱值作為數(shù)據(jù)處理的標(biāo)準(zhǔn)值。

(1).“設(shè)置/測量”鍵:按壓該鍵可使系統(tǒng)狀態(tài)在“測量”狀態(tài)和標(biāo)準(zhǔn)值“設(shè)置”狀態(tài)間切換。當(dāng)前狀態(tài)由上方“測量”、“設(shè)置”燈指示。

(2)。“位調(diào)整”鍵:用來調(diào)整輸入標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)的數(shù)據(jù)位。“設(shè)置”狀態(tài)燈亮?xí)r有效。按壓該鍵從位到*低位循環(huán)。閃爍位為當(dāng)前有效位。

(3).“數(shù)調(diào)整”鍵:用來改變閃爍位的值。按壓該鍵、閃爍位的值從9-0循環(huán)改變。

(4).“設(shè)置使能”鍵:當(dāng)確認(rèn)各位數(shù)據(jù)輸入無誤后,按壓該鍵,系統(tǒng)將以該值作為標(biāo)準(zhǔn)值計(jì)算“偏差”,并自動(dòng)切換到“測量”狀態(tài)。

4.“面板晶振測試”功能

儀器面板左邊為通用、一體化的無源晶振測試及信號選擇功能區(qū)

(1).測量信號選擇:

①內(nèi)部基準(zhǔn):選擇內(nèi)部時(shí)間基準(zhǔn)信號作為測量信號源??捎脕頇z查儀器是否工作正常。該機(jī)內(nèi)部基準(zhǔn)頻率為10MHz,偏差為2ppm。



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